珀金埃爾默NexION 2000 ICP-MS等離子體質譜儀，二手質譜儀

PerkinElmer NexION 2000 是一款為基體元素分析設計的電感耦合等離子體質譜儀，應用于半導體制造、環境監測、食品檢測、及工業過程等領域，為痕量元素檢測提供解決方案。

產品介紹

一、通用池技術

采用三路氣體通道和三種測量模式實時切換，減少多原子干擾。

二、LumiCoil? 射頻技術

全固態射頻發生器無需水冷，等離子體穩定性提升，離子傳輸效率提高。

三、三錐接口與免維護設計

采樣錐和截取錐位于真空腔外，可快速更換且不易堵塞。四極桿離子偏轉器分離帶電與中性粒子，背景噪音降低，真空系統無需維護。

四、擴展動態范圍

單次進樣可同時檢測 ppq 級汞和 ppm 級鈉，動態線性范圍達多個數量級，避免重復稀釋和進樣。

應用領域

一、半導體與微電子行業

冷等離子體

在分析半導體級鹽酸時，結合冷等離子體降低 Ar 離子化效率。

耐氫氟酸進樣系統

標配耐 HF 炬管和石英霧化器，直接分析含氟蝕刻液，無需復雜前處理，避免樣品污染風險。

PerkinEImer NexION 2000等離子體質譜儀

二、環境監測

從地表水到土壤沉積物，PerkinEImer NexION 2000等離子體質譜儀憑借全基體進樣系統和通量分析能力，成為環境實驗室的工具

水體分析

直接處理高鹽廢水和海水，通過在線稀釋單元自動調整樣品濃度，同時分析 Na和 Cd等元素，動態范圍覆蓋廣。

土壤與沉積物

分析污染土壤時，結合 He 碰撞模式多原子干擾。

顆粒檢測功能可識別水體中的污染物。

三、材料科學與技術

顆粒表征

基于單顆粒 ICP-MS 技術，可同時測定顆粒的成分、尺寸及團聚狀態。

在石墨烯研究中，通過檢測殘留金屬催化劑的含量，優化制備工藝以提升材料純度。

合金與涂層分析

分析高溫合金時，同步測定主量元素和痕量雜質，避免多次稀釋和重復進樣。

PerkinEImer NexION 2000等離子體質譜儀

四、食品安全

食品添加劑與污染物

檢測乳制品中的稀土元素時，啟用通用池的 O?反應模式，將Ca,O?轉化為 CaO?，避免對Fe 的誤判。

分析奶粉中的碘含量時，采用H?反應去除Ar，Ar?對Se 的干擾。

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